MIKROSKOP SIŁ ATOMOWYCH (AFM)

Mikroskop Sił Atomowych AFM firmy Park Systems (USA) Park NX10 umożliwia obserwację/analizę powierzchni ciał stałych w powiększeniu, w trzech wymiarach oraz wizualizację/określenie właściwości nanomechanicznych badanych materiałów.

Cechy i zalety mikroskopu AFM

• Pozwala na generowanie trójwymiarowych obrazów powierzchni próbek,
• Posiada możliwość dokładnego zmierzenia rozmiarów obiektów występujących na powierzchni (w tym także ich wysokości),
• Wyposażony jest w wiele dodatkowych trybów pozwalających przebadać próbki pod kątem ich właściwości mechanicznych, magnetycznych, elektrycznych i termoprzewodzących.

Tryby podstawowe:

• Generują tylko obrazy topografii powierzchni,
• Tryb kontaktowy,
• Tryb przerywanego kontaktu – pozwala dodatkowo na wygenerowanie obrazów kontrastu materiałowego,
• Tryb bezkontaktowy.

Dodatkowe tryby:

• Pomiary w cieczy,
• Mikroskopia przewodnictwa cieplnego (SThm),
• Mikroskopia przewodnictwa prądowego (CP-AFM),
• Mikroskopia sił magnetycznych (MFM),
• Pomiar lokalnych właściwości mechanicznych, (Spektroskopia F/d, PINPOINT),
• Mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM),
• Mikroskopia sondą Kelvina (KPFM),
• Skaningowy mikroskop tunelowy (STM),
• Pomiary w kontrolowanej temperaturze.

Specyfikacja mikroskopu PARK NX 10

• Maksymalny rozmiar skanu – 90x90 μm,
• Maksymalna rozmiar skanu w osi Z – 15 μm.

Nanoindenter

Dodatkowo pracownia wyposażona jest w nanoindenter Nanomechanics iMicro za pomocą którego można wyznaczać właściwości mechaniczne próbek (m. in. twardość i moduł elastyczności).

Cechy i zalety nanoindentera:

• Posiada możliwość wyznaczenia twardości i modułu elastyczności w wielu różnych punktach na próbce,
• Ma możliwość tworzenia map 2D, dzięki którym można zobaczyć jak zmieniają się właściwości mechaniczne próbki na danym obszarze,
• Może on wykonywać pomiary z maksymalna siłą nacisku dochodzącą do 50 mN.

Wymagania dotyczące próbki:

• maksymalna wysokość próbki – 15 mm,
• maksymalna szerokość próbki – 50 mm (zalecane mniejsze rozmiary do 5 mm),
• próbki możliwie płaskie lub o relatywnie małej chropowatości.

ZASTOSOWANIE I PRZYKŁADY ANALIZ AFM

Koszt wykonania analizy AFM ustalany jest indywidualnie. Na cenę usługi wpływa m.in. rodzaj podmiotu zlecającego badanie (zleceniodawca z Politechniki Poznańskiej/spoza Politechniki Poznańskiej/jednostka przemysłowa), liczba próbek i preparatów oraz stosowane metody badawcze.

Jeżeli chcesz zlecić wykonanie analizy oraz ustalić koszty, skontaktuj się z nami:
tel. 61 665 3547 lub e-mail: przemyslaw.bartczak@put.poznan.pl
tel. 61 665 2954 lub e-mail: filip.jaworski@put.poznan.pl
Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej.